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一种原子层沉积制备AlScN薄膜的方法 

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申请/专利权人:上海交通大学

摘要:本发明提供一种原子层沉积制备AlScN薄膜的方法,该方法包括:将衬底放入沉积室;将沉积室抽真空至预设压力后,将沉积室加热,并向沉积室中恒定通入载气;在衬底的表面进行a次AlN沉积循环;进行b次ScN沉积循环;重复a次AlN沉积循环和b次ScN沉积循环的步骤,直至薄膜达到目标厚度,降温后得到Al1‑xScxN薄膜。本发明充分利用原子层沉积工艺表面自限制的生长原理,实现薄膜厚度的原子尺度精准调控,利用AlN和ScN的周期比例调控,实现组分比例的精准调控,利用ALD工艺薄膜的均一性,实现三维结构的集成能力。

主权项:1.一种原子层沉积制备Al1-xScxN薄膜的方法,其特征在于,包括:将衬底放入沉积室;将沉积室抽真空至预设压力后,将沉积室加热,并向沉积室中恒定通入载气;在所述衬底的表面进行a次AlN沉积循环;进行b次ScN沉积循环;重复a次AlN沉积循环和b次ScN沉积循环的步骤,直至薄膜达到目标厚度,降温后得到Al1-xScxN薄膜。

全文数据:

权利要求:

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