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半导体装置及半导体装置的制造方法 

申请/专利权人:三菱电机株式会社

申请日:2021-02-25

公开(公告)日:2024-07-05

公开(公告)号:CN113345959B

主分类号:H01L29/739

分类号:H01L29/739;H01L29/06;H01L21/331;H01L21/265

优先权:["20200302 JP 2020-034631"]

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.07.05#授权;2021.09.21#实质审查的生效;2021.09.03#公开

摘要:本发明涉及半导体装置及半导体装置的制造方法。目的在于提供一种提高半导体装置的生产率的技术。第1缓冲层包含:第1部分,其位于从主面起的半导体基板的厚度方向上,具有N型杂质浓度的第1峰值;以及第2部分,其位于从主面起的与第1部分相比更远处,具有N型杂质浓度的第2峰值。主面与第1部分之间的距离小于或等于4.0μm,第1部分与第2部分之间的距离大于或等于14.5μm。第1部分与第2部分之间的部分的N型杂质浓度高于漂移层的N型杂质浓度。

主权项:1.一种半导体装置,其具有半导体基板,该半导体基板具有背面,其中,所述半导体基板包含:N型的漂移层;N型的第1缓冲层,其在所述背面侧与所述漂移层相邻而配置,包含质子作为N型杂质;以及N型的第2缓冲层,其在所述背面侧与所述第1缓冲层相邻而配置,包含与质子不同的N型杂质,所述第1缓冲层包含:第1部分,其位于从所述背面起的所述半导体基板的厚度方向上,具有N型杂质浓度的第1峰值;以及第2部分,其位于从所述背面起的与所述第1部分相比在所述厚度方向上更远处,具有N型杂质浓度的第2峰值,所述背面与所述第1部分之间的距离小于或等于4.0μm,所述第1部分与所述第2部分之间的距离大于或等于14.5μm,所述第1部分与所述第2部分之间的部分的N型杂质浓度高于所述漂移层的N型杂质浓度。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 三菱电机株式会社 半导体装置及半导体装置的制造方法

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