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摘要：本发明属于毫米波辐射探测技术领域，公开了一种基于反射极化度的复介电常数测量方法及系统，包括：在测试时间[0,t]内，保持待测材料的物理温度不变，使以当前入射角θi入射到待测材料表面的环境辐射处于变化状态，测量当前入射角θi下待测材料的水平极化输出和垂直极化输出；基于所述水平极化输出和垂直极化输出，计算待测材料发射电压的估计值，以估计当前入射角θi下的反射极化度RDoP：改变当前入射角θi，并重复上述步骤，得到各入射角θ1，θ2，…，θM下的反射极化度RDoP；基于各入射角θ1，θ2，…，θM下的反射极化度RDoP估计待测材料在当前物理温度下的复介电常数。本发明能够降低复介电常数测量的误差及复杂度。
主权项：1.一种基于反射极化度的复介电常数测量方法，其特征在于，包括：S1、在测试时间[0,t]内，保持待测材料的物理温度Tobj不变，使以当前入射角θi入射到待测材料表面的环境辐射处于变化状态，测量当前入射角θi下待测材料的水平极化输出Vh和垂直极化输出Vv；其中，i取1，2，…，或M，M表示测量的入射角总数；S2、计算待测材料发射电压VE的估计值并以使得所述估计值自相关度的绝对值最小为估计目标，估计当前入射角θi下的反射极化度RDoP；其中，pe表示发射极化度；S3、改变当前入射角θi，并重复S1-S2，得到各入射角θ1，θ2，…，θM下的反射极化度RDoP；S4、基于各入射角θ1，θ2，…，θM下的反射极化度RDoP估计待测材料在当前物理温度Tobj下的复介电常数。
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百度查询： 华中科技大学 一种基于反射极化度的复介电常数测量方法及系统
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