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申请/专利权人：成都电科星拓科技有限公司
摘要：本发明公开了一种测试向量转换方法。为降低芯片测试成本，本发明的测试向量转换方法，用于将第一ATE测试向量转换为第二ATE测试向量，包括：提取第二ATE芯片测试程序中的管脚定义文件中的管脚信息并写入第一依赖文件；提取文本格式编码的第一ATE测试向量中的内容并写入第二依赖文件；将第一ATE的逻辑真值和第二ATE的逻辑真值之间的对应关系写入第三依赖文件；调用第一依赖文件和第三依赖文件，通过脚本将文本格式编码的第二依赖文件转换为ASCII格式编码的第二ATE测试向量。本发明通过脚本实现不同ATE测试向量之间的直接转换，解决了不同的ATE间测试向量在不同ATE中无法直接通用的技术问题，获得了低芯片测试成本和周期的技术效果。本发明适于芯片测试领域。
主权项：1.一种测试向量转换方法，用于将第一ATE测试向量转换为第二ATE测试向量，其特征在于，包括如下步骤：提取第二ATE芯片测试程序中的管脚定义文件中的管脚信息，并写入第一依赖文件；提取文本格式编码的第一ATE测试向量中的内容，并写入第二依赖文件；将第一ATE的逻辑真值和第二ATE的逻辑真值之间的对应关系，写入第三依赖文件；调用第一依赖文件和第三依赖文件，通过脚本将文本格式编码的第二依赖文件转换为ASCII格式编码的第二ATE测试向量；所述第一ATE测试向量，是用于第一ATE中的芯片测试向量；所述第二ATE测试向量，是用于第二ATE中的芯片测试向量；提取文本格式编码的第一ATE测试向量中的内容，包括向量微指令和芯片逻辑真值；所述脚本根据文本格式编码与ASCII格式编码之间的映射关系，将文本格式编码的第二依赖文件转换为ASCII格式编码的第二ATE测试向量。
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权利要求：
百度查询： 成都电科星拓科技有限公司 测试向量转换方法
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