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申请/专利权人：中国航天标准化研究所
摘要：本发明提供了一种光学元件及通路系统寿命可靠性评估与薄弱环节识别方法，包括：通过加速光学元件寿命测试的方法，获取光学元件的寿命数据，利用光学元件的寿命数据，对光学元件进行寿命可靠性评估；建立通路系统的寿命可靠性评估模型，通过蒙特卡洛方法进行通路系统的可靠性评估；通过计算通路系统中各光学元件的预设关键重要度，从而识别通路系统的薄弱环节，大大提高了本发明的可用性与可靠性，利用通过蒙特卡洛方法进行通路系统的可靠性评估，很大程度上提高了运算效率，能够精确得到通路系统的可靠性在指定置信水平下的区间估计结果，大大提高了本发明光学元件和通路系统可靠性评估和薄弱环节识别的准确性的可靠性。
主权项：1.一种光学元件及通路系统寿命可靠性评估与薄弱环节识别方法，其特征在于，所述方法包括：S100、通过加速光学元件寿命测试的方法，获取光学元件的寿命数据，利用光学元件的寿命数据，对光学元件进行寿命可靠性评估；S200、建立通路系统的寿命可靠性评估模型，通过蒙特卡洛方法进行通路系统的可靠性评估；S300、通过计算通路系统中各光学元件的预设关键重要度，从而识别通路系统的薄弱环节。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国航天标准化研究所 光学元件及通路系统寿命可靠性评估与薄弱环节识别方法
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