申请/专利权人：上海微波技术研究所(中国电子科技集团公司第五十研究所)

申请日：2019-12-25

公开（公告）日：2023-02-24

公开（公告）号：CN111191403B

主分类号：G06F30/30

分类号：G06F30/30

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.02.24#授权;2020.06.16#实质审查的生效;2020.05.22#公开

摘要：本发明提供了一种优化BIB探测器响应率的方法及BIB探测器，首先通过数值模拟及数据拟合得到探测器最佳工作温度关于不同工作偏压的函数式，进而根据该函数式及设置的工作偏压提取出相应的最佳工作温度，该工作温度在设置的工作偏压下能使制作的BIB探测器的响应率达到最优。本发明能够针对不同材料体系及不同工艺条件得到的BIB探测器提取出最佳工作温度与工作偏压的关系，由此得到工作偏压及相应最佳工作温度在内的最佳工作条件，根据最佳工作条件对探测器的工作偏压及工作温度进行设置，则探测器的响应率将具有最优值，从而避免为了优化响应率而对探测器的工作条件进行反复设置，极大地缩短了探测器的调试周期并提高了调试的准确度。

主权项：1.一种优化BIB探测器响应率的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1：构建阻挡杂质带BIB探测器的结构模型；步骤2：根据构建的BIB探测器的结构模型构建相应的物理模型；步骤3：制作BIB材料样品，提取BIB材料样品的关键物理参数，将提取的关键物理参数输入构建的物理模型，完成BIB探测器数值模型的构建；步骤4：将远红外辐射从正面垂直照射到探测器上，并根据构建的数值模型选取能使探测器正常工作的固定温度TA和固定偏压UA，由数值模拟得到当工作温度TO＝TA且工作偏压UO＝UA时探测器的光谱响应率曲线，其中，所述光谱响应率曲线即为探测器响应率R随入射波长λ变化的曲线；步骤5：在不同数值的固定偏压UA下，分别改变工作温度TO，得到不同固定偏压UA下，不同工作温度TO对应的探测器光谱响应率的一系列曲线，并提取探测器的峰值波长λP对应的峰值响应率RP随工作温度TO变化的一系列曲线；步骤6：根据步骤5得到的当工作偏压UO等于不同固定偏压UA值时，λP对应的峰值响应率RP随工作温度TO变化的一系列曲线，提取探测器最佳工作温度TOpt随工作偏压UO变化的曲线，得到拟合探测器最佳工作温度TOpt随工作偏压UO变化的曲线的函数式TOptUO，其中，探测器最佳工作温度TOpt即为探测器峰值响应率RP取最优值时对应的工作温度TO；步骤7：根据步骤6得到的探测器最佳工作温度TOpt关于不同工作偏压UO的函数式及设置的工作偏压UO，确定能使探测器响应率达到最优的最佳工作条件，其中最佳工作条件由工作偏压UO及相应最佳工作温度TOpt组成。步骤8：采用与步骤3中BIB材料样品相同的材料体系和工艺条件在高导衬底上依次生长吸收层和阻挡层，然后采用微纳工艺完成BIB探测器制备；步骤9：将制备完成的BIB探测器经过封装工艺放置于低温恒温器中，然后分别通过低温恒温器的电学接口和热学接口，按照步骤9确定的最佳工作条件对BIB探测器的工作偏压及工作温度进行设置，则制备的BIB探测器的响应率将具有最优值。

全文数据：

权利要求：

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