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申请/专利权人：本源量子计算科技(合肥)股份有限公司
摘要：本发明提供了一种量子芯片的测试方法、装置及量子计算机，所述测试方法包括：获取所述量子芯片上一待测量子比特执行至少两次能谱实验的数据，每次能谱实验的数据包括量子态调控信号的多个频率值和与其一一对应的读取腔的S21参数幅值，其中，所述至少两次能谱实验中，所述量子态调控信号的多个频率值相同，读取信号的频率不同；获取所述至少两次能谱实验中，所述量子态调控信号的多个频率值对应的所述读取腔的S21参数幅值的理论值；基于所述至少两次能谱实验的数据以及全部的所述理论值获取所述待测量子比特的比特频率。本发明的技术方案能够在能谱实验结果无明显峰以及存在干扰峰时仍准确获取待测量子比特的比特频率。
主权项：1.一种量子芯片的测试方法，其特征在于，包括：获取所述量子芯片上一待测量子比特执行至少两次能谱实验的数据，每次能谱实验的数据包括量子态调控信号的多个频率值和与其一一对应的读取腔的S21参数幅值，其中，所述至少两次能谱实验中，所述量子态调控信号的多个频率值相同，读取信号的频率不同；获取所述至少两次能谱实验中，所述量子态调控信号的多个频率值对应的所述读取腔的S21参数幅值的理论值；基于所述至少两次能谱实验的数据以及全部的所述理论值获取所述待测量子比特的比特频率。
全文数据：
权利要求：
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