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摘要：本申请公开了一种面板测试装置、面板测试方法、面板测试系统及存储介质，涉及面板测试技术领域，公开了面板测试装置，包括：盖板和底板，底板上设有凹槽，盖板放置在凹槽上形成用于容纳待测试面板的中空封闭腔；盖板的内侧上设有第一测试部件，第一测试部件用于与待测试面板的测试点相接触；盖板的外侧设有与第一测试部件相接的第二测试部件，第二测试部件通过第一测试部件向待测试面板输出驱动信号，通过驱动信号对待测试面板上的薄膜晶体管进行逐行开启，接收薄膜晶体管开启时返回的漏电流信号，基于漏电流信号输出面板测试数据，在无需进行BD操作，避免了COF损坏的同时，确保了面板漏电流检测的准确性。
主权项：1.一种面板测试装置，其特征在于，所述面板测试装置包括盖板和底板，所述底板上设有凹槽，所述盖板放置在所述凹槽上形成用于容纳待测试面板的中空封闭腔；所述盖板的内侧上设有第一测试部件，所述第一测试部件用于与所述待测试面板的测试点相接触；所述盖板的外侧设有与所述第一测试部件相接的第二测试部件，所述第二测试部件通过所述第一测试部件向所述待测试面板输出驱动信号，通过所述驱动信号对所述待测试面板上的薄膜晶体管进行逐行开启，接收所述薄膜晶体管开启时返回的漏电流信号，基于所述漏电流信号输出面板测试数据。
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百度查询： 惠科股份有限公司 面板测试装置、面板测试方法、面板测试系统及存储介质
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