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摘要：本发明涉及电子元器件测试技术领域，尤其是指面向元器件批量测试的探针装置、测试装置及测试方法，其中，所述探针装置包括PCB电路板和多个金属探针，所述PCB电路板上设有呈矩阵阵列分布的多个测试单元，每个金属探针的一端连接所述测试单元，其另一端连接被测元器件；其中，所述测试单元包括LED驱动单元、熔断器和直流电源，所述LED驱动单元的输出端通过所述金属探针连接被测元器件，其输入端通过所述熔断器连接所述直流电源的输出端。本发明能够同时批量检测被测电子元件，提高测试效率。
主权项：1.一种面向元器件批量测试的探针装置，其特征在于，包括：PCB电路板，所述PCB电路板上设有呈矩阵阵列分布的多个测试单元；以及多个金属探针，每个金属探针的一端连接所述测试单元，其另一端连接被测元器件；其中，所述测试单元包括LED驱动单元、熔断器和直流电源，所述LED驱动单元的输出端通过所述金属探针连接被测元器件，其输入端通过所述熔断器连接所述直流电源的输出端。
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百度查询： 苏州集泰信息科技有限公司 面向元器件批量测试的探针装置、测试装置及测试方法
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