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申请/专利权人：星遥光宇(常州)科技有限公司
摘要：本发明提供一种目标辐射特性测量设备的标定方法、标定装置，所述测量设备包括：压缩组件、透反镜、校正组件、探测器和腔式黑体，所述方法包括：控制压缩组件所在光路不工作，且控制腔式黑体发出的辐射光线经透反镜发射至校正组件校正后入射至探测器进行成像，以进行内标定；控制漫反射面切入目标辐射特性测量设备前端，腔式黑体发出的辐射光线经过压缩组件压缩后入射至漫反射面，漫反射后经透反镜、校正组件返回探测器进行成像，以进行外标定；根据内标定结果和外标定结果对目标辐射特性测量设备进行标定。本发明将腔式黑体集成于目标辐射特性测量设备内部，可以在工作环境与状态下对目标辐射特性测量设备进行快速、宽动态的周期性机动标定。
主权项：1.一种目标辐射特性测量设备的标定方法，其特征在于，所述目标辐射特性测量设备包括：压缩组件、透反镜、校正组件、探测器和对应所述透反镜设置的腔式黑体，所述方法包括以下步骤：控制压缩组件所在光路不工作，且控制腔式黑体发出特定辐亮度辐射光线，辐射光线经所述透反镜发射至校正组件校正后入射至探测器进行成像，以进行内标定；根据内标定时目标辐射特性测量设备的数学模型和辐射响应参数获取校正组件的入射辐亮度响应率αn；控制漫反射面切入目标辐射特性测量设备前端，所述透反镜旋转90°，所述腔式黑体发出特定辐亮度辐射光线，辐射光线经过所述压缩组件压缩后入射至所述漫反射面，漫反射后经透反镜、校正组件返回探测器进行成像，以进行外标定；根据外标定时目标辐射特性测量设备的数学模型和辐射响应参数获取压缩组件的入射辐亮度响应率αw、外定标时内部杂散辐射引起的探测器响应灰度Wzw和外定标时的探测器灰度响应误差DNdw；根据所述校正组件的入射辐亮度响应率αn、压缩组件的入射辐亮度响应率αw、外定标时内部杂散辐射引起的探测器响应灰度Wzw和外定标时的探测器灰度响应误差DNdw对所述目标辐射特性测量设备进行整体标定。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 星遥光宇(常州)科技有限公司 目标辐射特性测量设备的标定方法、标定装置
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