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申请/专利权人：中山市达尔科光学有限公司
摘要：本发明涉及一种PCB免焊接光学器件定位方法，方法首先采集器件图像并进行降采样处理以获取特征，随后在不同尺度图像中提取并初步筛选角点特征集合；通过计算角点显著性得分进行二次筛选，得到各类型光学器件的精细化角点特征；利用迭代收敛得到具有均匀分布的稳定角点特征集合；提取器件多尺度轮廓边缘信息，计算多尺度曲率极值点作为潜在的复杂形状角点，并与稳定角点特征集合融合构建角点综合特征集；根据角点综合特征集构建角点拓扑结构模型，并与模板库匹配验证几何布局；融合匹配结果与角点坐标信息，生成定位信息，并传递给PCB装配控制系统。本发明能够准确提取和定位微小非标准光学器件的关键特征点，实现PCB免焊接微小光学器件的快速装配。
主权项：1.一种PCB免焊接光学器件定位方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、对PCB板上待装配的微小非标准光学器件的图像进行采集并降采样处理，获取器件图像特征；S2、在不同尺度层级的器件图像中分别提取角点候选区域，并初步筛选出包含不同材质和方向的角点初始特征集合；S3、对初始角点特征集合中的每个角点候选点，计算角点显著性得分；S4、基于所述角点显著性得分，对候选角点进行二次筛选，并获取不同光学器件类型的精细化角点特征点集；S5、根据所述精细化角点特征点集，通过迭代收敛得到具有均匀分布的稳定角点特征集合；S6、提取器件的多尺度轮廓边缘信息，并在边缘线段上计算多尺度曲率极值点作为潜在的复杂形状角点；S7、将所述复杂形状角点与所述稳定角点特征集合进行融合，构建角点综合特征集；S8、根据检测到的角点综合特征集，构建光学器件的角点拓扑结构模型，并与各类光学器件角点模板库进行匹配，判断是否符合预期的几何布局；S9、将角点拓扑结构匹配结果与角点精细化坐标信息进行融合，生成光学器件的定位信息，并传递给PCB装配控制系统。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中山市达尔科光学有限公司 一种PCB免焊接光学器件定位方法
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