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申请/专利权人：成都数之联科技股份有限公司
摘要：本发明提供一种元器件引脚缺陷检测方法、系统、设备及存储介质，涉及元器件缺陷检测技术领域，所述方法流程为：对引脚定位框进行像素处理和轮廓提取处理，以得到引脚轮廓集合；基于引脚轮廓集合获取包绕面积和凸包面积，并且基于包绕面积和凸包面积计算形变程度；基于引脚轮廓集合获取采样长度内的区域周长，并且基于采样长度内的区域周长计算宽度值；基于引脚轮廓集合获取轮廓周长，并且基于轮廓周长和宽度值计算长度值；基于形变程度、宽度值以及长度值进行引脚缺陷检测，以得到元器件引脚缺陷检测结果。本发明基于深度学习技术、图像处理技术以及工程处理技术进行引脚缺陷检测，解决了元器件生产过程中引脚交叉、弯曲程度难以检测的问题。
主权项：1.一种元器件引脚缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：对元器件图像进行引脚定位处理，以得到包含元器件引脚图像的引脚定位框；对引脚定位框进行像素处理和轮廓提取处理，以得到包含引脚轮廓信息的引脚轮廓集合；基于引脚轮廓集合获取引脚的包绕面积和凸包面积，并且对引脚的包绕面积和凸包面积进行比值运算，以得到引脚的形变程度；基于引脚轮廓集合获取预设采样长度对应的区域周长，并且对区域周长和采样长度进行减法运算，以得到引脚的宽度值；基于引脚轮廓集合获取引脚的轮廓周长，并且对引脚的轮廓周长和引脚的宽度值进行减法运算，以得到引脚的长度值；基于引脚的工程参数对元器件进行引脚缺陷检测，以得到元器件引脚缺陷检测结果，其中，引脚的工程参数包括引脚的形变程度、宽度值以及长度值。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 成都数之联科技股份有限公司 一种元器件引脚缺陷检测方法、系统、设备及存储介质
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