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申请/专利权人：株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
摘要：提供提高测试的可靠性的半导体集成电路以及半导体集成电路的测试方法。实施方式的半导体集成电路具有包含第一以及第二SCAN阶层的核心电路与控制对于第一以及第二SCAN阶层的SCAN测试的测试控制电路，测试控制电路在向第一SCAN阶层供给第一测试数据以及第一移位时钟之后，将第一SCAN阶层设定为待机状态，在第一SCAN阶层为待机状态的期间中，向第二SCAN阶层供给第二测试数据以及第二移位时钟，在向第二SCAN阶层供给第二测试数据以及第二移位时钟之后，将第二SCAN阶层设定为待机状态，在将第二SCAN阶层设定为待机状态之后，向第一SCAN阶层供给第一发动时钟以及第一捕获时钟。
主权项：1.一种半导体集成电路，其特征在于，具备：核心电路，包含第一SCAN阶层与第二SCAN阶层，该第一SCAN阶层包含第一SCAN链电路以及第一组合电路，该第二SCAN阶层包含第二SCAN链电路以及第二组合电路；以及测试控制电路，控制对于所述第一以及第二SCAN阶层的SCAN测试，所述测试控制电路，在将第一测试数据以及第一移位时钟供给到所述第一SCAN阶层之后，将所述第一SCAN阶层设定为待机状态，在所述第一SCAN阶层为待机状态的期间中，向所述第二SCAN阶层供给第二测试数据以及第二移位时钟，在将所述第二测试数据以及所述第二移位时钟供给到所述第二SCAN阶层之后，将所述第二SCAN阶层设定为待机状态，在将所述第二SCAN阶层设定为所述待机状态之后，向所述第一SCAN阶层供给第一发动时钟以及第一捕获时钟。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 株式会社东芝 东芝电子元件及存储装置株式会社 半导体集成电路以及半导体集成电路的测试方法
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