申请/专利权人:无锡华润上华科技有限公司
申请日:2022-12-29
公开(公告)日:2024-07-02
公开(公告)号:CN118280814A
主分类号:H01L21/02
分类号:H01L21/02;H01L21/336;H01L29/78;H10B12/00
优先权:
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2024.07.19#实质审查的生效;2024.07.02#公开
摘要:本发明提供了一种MOS晶体管的制备方法及SRAM单元,其中所述MOS晶体管的制备方法包括以下步骤:提供一硅晶圆;对硅晶圆执行清洗工艺;形成第一氧化层于所述硅晶圆上;形成第二氧化层于第一氧化层上,第一氧化层和第二氧化层构成栅氧层;对形成有栅氧层的硅晶圆执行清洗工艺;形成栅极结构于栅氧层上;对栅极结构执行快速氧化工艺,以氧化栅极结构的表面,获得MOS晶体管。本发明提供的MOS晶体管的制备方法能够在改善SRAM良率的同时,保证器件性能良好。
主权项:1.一种MOS晶体管的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:提供一硅晶圆;对所述硅晶圆执行清洗工艺;形成第一氧化层于所述硅晶圆上;形成第二氧化层于所述第一氧化层上,所述第一氧化层和第二氧化层构成栅氧层;对形成有栅氧层的所述硅晶圆执行清洗工艺;形成栅极结构于所述栅氧层上;对所述栅极结构执行快速氧化工艺,以氧化所述栅极结构的表面,获得MOS晶体管。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 无锡华润上华科技有限公司 MOS晶体管的制备方法及SRAM单元
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