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申请/专利权人：合肥松豪电子科技有限公司
摘要：本发明属于IC的技术领域，尤其涉及一种利用SRAM在FPGA验证平台上的验证模型及方法。模型包括依次设置且双向通信的master模块、EFLASH_CTRL模块、EFLASH_To_RAM模块，所述EFLASH_To_RAM模块的另一输出端还与RAM存储器连接。本发明中提到的TPIC的CPU核运行空间就是Eflash。由于Eflash在TPIC生产的时候是由Foundry厂直接提供的版图文件，而此文件不可以在FPGA平台上使用。所以本发明针对FPGA平台提出了基于FPGA的RAM资源搭建一个Eflash模型用于TPIC的FPGA验证。
主权项：1.一种利用SRAM在FPGA验证平台上的验证模型，其特征在于，包括依次设置且双向通信的master模块、EFLASH_CTRL模块、EFLASH_To_RAM模块，所述EFLASH_To_RAM模块的另一输出端还与RAM存储器连接；用于TPIC在FPGA平台上验证；所述验证模型的工作流程为：S1、当Master模块对Eflash的访问时，对EFLASH_CTRL模块发出请求，Eflash_CTRL模块将Eflash访问转成Eflash接口协议；S2、EFLASH_CTRL模块接收到Master模块的请求后，把访问请求转换成EFLASH_Interface；S3、Eflash_To_Ram模块将Eflash协议转成RAM协议；S4、把EFLASH_CTRL模块发送的EFLASH访问请求通过EFLASH_To_RAM模块转换成RAM的访问并发送给RAM存储器完成访问；其中，EFLASH访问转成RAM访问时的对比为：EFLASH访问请求为读Eflash，转换成RAM的访问为读RAM；EFLASH访问请求为写Eflash，转换成RAM的访问为写RAM；EFLASH访问请求为擦除Eflash，转换成RAM的访问为擦除RAM。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 合肥松豪电子科技有限公司 一种利用SRAM在FPGA验证平台上的验证模型及方法
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