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申请/专利权人：沐曦集成电路(上海)有限公司

摘要：本申请涉及存储设计技术领域，特别是涉及一种SRAM生成系统，所述系统至少包括供应侧提供的基础单元集合，当系统存储器中的计算机程序被处理器执行时，实现以下步骤：根据各个模块的设计需求，综合确定出SRAM的整体设计单元，在供应侧所提供的基础单元无法直接应用为整体设计单元时，对整体设计单元进行切分，得到若干个子单元，确保每个子单元有对应的基础单元，若切分形成的目标设计单元满足条件，将其作为SRAM生成结果，通过切分处理的方式，使得基于基础单元的SRAM生成结果能够适应于不同的位宽和深度需求，有效提高SRAM应用后的设计和验证效率。

主权项：1.一种SRAM生成系统，其特征在于，所述系统包括：处理器和存储有计算机程序的存储器，其中，所述存储器还存储有供应侧提供的基础单元集合D={d1，d2，…，dn，…，dN}，dn为第n种基础单元，n为[1，N]范围内的整数，N为所述供应侧所提供基础单元的种类数量，当所述计算机程序被处理器执行时，实现以下步骤：S101，获取需求参数向量集合A={a1，a2，…，ai，…，aI}，其中，ai为第i个模块对应的需求参数向量，i为[1，I]范围内的整数，I为SRAM设计所涉及的模块数量，ai=[bi1，bi2，…，bij，…，biJ]，bij为第i个模块对应第j个需求类型的需求参数，j为[1，J]范围内的整数，J为SRAM设计所涉及的需求类型个数；S102，根据A，确定整体设计单元E；S103，将E与d1，d2，…，dn，…，dN分别进行比对，得到N个比对结果，若所述N个比对结果均为不一致，则执行步骤S104；S104，将E切分为M个子单元{e1，e2，…，em，…，eM}，由{e1，e2，…，em，…，eM}形成目标设计单元F，其中，em为第m个子单元，m为[1，M]范围内的整数，em∈D，其中，步骤S104中还包括以下步骤：S1041，记录将E切分为M个子单元{e1，e2，…，em，…，eM}的切分方式s，s∉切分方式集合S，S初始为空集；S1042，将s更新至所述切分方式集合S中；S105，对F进行评估，得到F对应的评估参数向量G=[g1，g2，…，gp，…，gP]，其中，gp为第p个评估参数，p为[1，P]范围内的整数，P为G中评估参数的种类数量；S106，将G与预设的参考参数向量H=[h1，h2，…，hp，…，hP]比较，得到比较结果；S107，若所述比较结果不满足第一预设条件，则返回执行步骤S104，直至满足第二预设条件，所述第一预设条件为任一评估参数与其对应的参考参数之间满足预设关系，所述第二预设条件为所述切分方式集合S中的元素数量大于第一预设阈值；S108，若所述比较结果满足第一预设条件，则以F作为SRAM生成结果，其中，步骤S108还包括以下步骤：S1081，若所述比较结果满足所述第一预设条件，则以F作为中间结果；S1082，返回执行步骤S104，直至满足第三预设条件，得到至少一个中间结果，所述第三预设条件为所述中间结果的数量大于第二预设阈值或者所述切分方式集合S中的元素数量大于所述第一预设阈值；S1083，根据各个中间结果对应的评估参数向量，从所有中间结果选择一个作为所述SRAM生成结果。

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百度查询： 沐曦集成电路(上海)有限公司 一种SRAM生成系统