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使用清洁协议来监测与光检测和测距(Lidar)设备相关联的缺陷 

申请/专利权人:伟摩有限责任公司

申请日:2023-12-29

公开(公告)日:2024-07-02

公开(公告)号:CN118276057A

主分类号:G01S7/497

分类号:G01S7/497;G01S17/931

优先权:["20221230 US 18/148,619"]

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.07.02#公开

摘要:示例实施例涉及使用清洁协议来监测与光检测和测距lidar设备相关联的缺陷。示例实施例包括一种方法。方法包括使用清洁设备将清洁协议应用于光检测和测距lidar设备的一个或多个光学组件。方法还包括从lidar设备的光发射器发射一个或多个光信号。另外,方法包括由lidar设备的光检测器检测一个或多个光信号的反射。此外,方法包括由lidar设备的控制器基于一个或多个光信号的检测到的反射来确定一个或多个缺陷存在于一个或多个光学组件内或清洁设备内。

主权项:1.一种用于监测与lidar设备相关联的缺陷的方法,包括:使用清洁设备将清洁协议应用于光检测和测距lidar设备的一个或多个光学组件;从所述lidar设备的光发射器发射一个或多个光信号;由所述lidar设备的光检测器检测所述一个或多个光信号的反射;和由控制器基于所述一个或多个光信号的所检测到的反射来确定一个或多个缺陷存在于所述一个或多个光学组件内或所述清洁设备内。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 伟摩有限责任公司 使用清洁协议来监测与光检测和测距(Lidar)设备相关联的缺陷

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