买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
申请/专利权人:财团法人工业技术研究院
摘要:一种对象材积测量系统,包括门闸,具有多个相对应的光发射器与光接收器,多个该光发射器与多个该光接收器用以产生对应对象的二轴切面信息的多个光信号;透光平台,用以放置对象且可通过门闸;信号接收器,用以分时记录对象及透光平台通过门闸时的计步信号及多个此光信号;及处理器,用以取得对应对象的二轴切面信息的多个此光信号及计步信号的3D点云数据,计算对象的材积值。
主权项:1.一种对象材积测量系统,其特征在于,包括:门闸,具有多个相对应的光发射器与光接收器,多个该光发射器与多个该光接收器用以产生对应一对象的二轴切面信息的多个光信号;透光平台,用以放置该对象且可通过该门闸;信号接收器,用以分时记录该对象及该透光平台通过该门闸时的计步信号及多个该光信号;以及处理器,用以取得对应该对象的二轴切面信息的多个该光信号及该计步信号的3D点云数据,计算该对象的材积值。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 财团法人工业技术研究院 对象材积测量系统及其方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。