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申请/专利权人：深圳中安辰鸿技术有限公司
摘要：本发明提供了一种半导体芯片及其HTOL、延时和整体测试方法，在半导体芯片的测试过程中，能够通过选择电路将待测IO电路之间相连通，以使信号能够在所有待测IO电路中传输，完成HTOL测试、延时测试和整体测试的过程。并且，在半导体芯片的HTOL测试过程中，能够通过测试器提供目标频率的测试信号，灵活与半导体芯片的IO电路工作频率匹配，满足HTOL测试要求。并且，本发明提供的半导体芯片的测试，能够选取所有IO电路为待测IO电路达到一次性测试所有IO电路的目的，或者选取部分IO电路为待测IO电路达到分部分测试IO电路的目的，以对半导体芯片进行更好的测试，提高了测试效果。
主权项：1.一种半导体芯片，其特征在于，包括：多个IO电路，所述IO电路包括输入端口、输出端口和双向端口，所述IO电路的输入端口接入信号时，则所述IO电路的双向端口输出信号；及所述IO电路的双向端口接入信号时，则所述IO电路的输出端口输出信号；及，选择电路，所述选择电路的输出侧与所述IO电路电连接，所述选择电路的输入侧接入功能信号且与测试器电连接，所述测试器用于输出目标频率的测试信号；所述选择电路用于选择控制至少部分所述IO电路中，前一个所述IO电路的输出端口与后一个所述IO电路的输入端口相连通；及，所述选择电路还用于选择所述测试信号或所述功能信号传输至所述IO电路。
全文数据：
权利要求：
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