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申请/专利权人：北京唯捷创芯精测科技有限责任公司
摘要：本发明公开了一种射频芯片RF‑HTOL老化实验系统，包括：射频信号源模块、分路放大传输模块和接收测试模块；射频信号源模块用于单路输出设定频率和功率的第一射频信号；分路放大传输模块用于将第一射频信号进行放大并输出多路第二射频信号；接收测试模块设置于加热装置内，加热装置用于为射频芯片提供老化测试所需的密闭环境和温度；接收测试模块用于安装多个待测试的射频芯片，以及用于将接收的每路第二射频信号转换为多路第三射频信号，并将每路第三射频信号输入至一个射频芯片，以进行RF‑HTOL老化测试。本发明能够提高射频芯片的测试效率，满足多种不同类型芯片的批量射频高温寿命老化测试。
主权项：1.一种射频芯片RF-HTOL老化实验系统，其特征在于，包括：射频信号源模块、分路放大传输模块和接收测试模块；所述射频信号源模块用于单路输出设定频率和设定功率的第一射频信号；所述分路放大传输模块包括第一输入端口和多个第一输出端口，所述射频信号源的输出端与所述分路放大传输模块的输入端口连接，所述分路放大传输模块用于将所述第一射频信号进行放大并输出多路第二射频信号；所述接收测试模块设置于加热装置内，所述加热装置用于为所述射频芯片提供老化测试所需的密闭环境和温度；所述接收测试模块包括多个第二输入端口，每个所述第二输入端口与一个所述第一输出端口连接，所述接收测试模块用于安装多个待测试的射频芯片，以及用于将接收的每路第二射频信号转换为多路第三射频信号，并将每路所述第三射频信号输入至一个射频芯片，以进行老化测试。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京唯捷创芯精测科技有限责任公司 射频芯片RF-HTOL老化实验系统
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