买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
摘要:本发明涉及一种从稀疏到密集视点的全参考光场图像质量评价方法,包括:获取若干不同大小的子孔径图像阵列,从子孔径图像阵列中分别选取若干张子孔径图像并进行处理,获取原始和失真视点图像堆栈Y通道信息;将原始和失真视点图像堆栈Y通道信息进行特征提取,获取完整原始图像堆栈特征和完整失真图像堆栈特征,并获取对比特征;对完整原始图像堆栈特征、完整失真图像堆栈特征和对比特征进行图像注意信息提取;将图像注意信息的维度进行重新排列后,提取光场图像特征;基于光场图像特征,获取最终特征向量信息,并基于最终特征向量信息获取最终质量分数。本发明提升了全参考光场图像质量评价质量。
主权项:1.一种从稀疏到密集视点的全参考光场图像质量评价方法,其特征在于,包括:获取若干不同大小的子孔径图像阵列,从所述子孔径图像阵列中分别选取若干张子孔径图像并进行处理,获取原始视点图像堆栈Y通道信息和失真视点图像堆栈Y通道信息;将所述原始视点图像堆栈Y通道信息和所述失真视点图像堆栈Y通道信息进行特征提取,获取完整原始图像堆栈特征和完整失真图像堆栈特征,并获取所述完整原始图像堆栈特征和所述完整失真图像堆栈特征之间的对比特征;对所述完整原始图像堆栈特征、所述完整失真图像堆栈特征和所述对比特征进行图像注意信息提取;将所述图像注意信息的维度进行重新排列后,提取光场图像特征;基于所述光场图像特征,获取最终特征向量信息,并基于所述最终特征向量信息获取最终质量分数。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 安庆师范大学 一种从稀疏到密集视点的全参考光场图像质量评价方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。