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申请/专利权人：浙江大学
摘要：本发明公开了一种多级多模态融合的OLED缺陷检测装置，针对传统的基于图像的检测方案精度受限的问题，创新性地在OLED图像采集阶段引入偏振和多光谱信息，增强缺陷特征，进而提升系统对于细微缺陷的检测能力，针对OLED屏体缺陷种类丰富，形态复杂多变，单一装置无法完全检出的问题，从缺陷的成因和材料特性出发，采用了双点位检测系统对不同种类的缺陷进行分阶段检测。利用偏振信息对待测物表面的粗糙度和形貌特征较为敏感的特性，使用基于偏振融合的检测点位一检测裂纹、划痕、异物和破片缺陷；利用气泡和脏污对光谱特性敏感的特点，使用基于多光谱融合的装置二检测OLED屏体上的气泡和脏污缺陷。
主权项：1.一种多级多模态融合的OLED缺陷检测装置，其特征在于，所述装置包括:样品传输控制装置：包括传送带5，用于自动上料、放置并传输OLED样品；双点位图像采集装置：偏振相机1和多光谱相机8，分别用于基于偏振融合和多光谱融合的检测；照明装置：同轴光源2和多光谱光源7，所述的同轴光源用于发射同轴光至OLED样品上且产生反射光至偏振相机的视场范围；所述的多光谱光源用于发射多光谱环形光至OLED样品上且且产生反射光至多光谱相机的视场范围；光源控制器9：用于控制同轴光源2和多光谱光源7的开关和亮度，以及控制多光谱光源发射的多光谱环形光发射频率与多光谱相机采集频率一致；工控机10：用于同步控制图像采集装置的采集速度，分别生成偏振融合图像和多光谱融合图像，执行缺陷检测算法，并将两阶段检测结果进行后融合，以判定样品是否合格；偏振膜3：贴附于同轴光源2发光面，用于获取偏振光；所述的光源控制器9、传送带5、偏振相机和多光谱相机均与工控机相连，所述的同轴光源和多光谱光源均与光源控制器9相连，所述的偏振相机、同轴光源和偏振膜构成OLED样品经过的检测第一点位，所述的多光谱光源、多光谱相机构成OLED样品经过的检测第二点位。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 浙江大学 一种多级多模态融合的OLED缺陷检测装置
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