买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

申请/专利权人：浙江大学

摘要：本发明公开了一种基于偏振光的柔性OLED面板缺陷检测装置及检测方法，本发明快速扫描待测柔性OLED面板样品，对待测柔性OLED面板样品进行全面检测，显著提高检测效率，结合先进的图像处理算法，能够自动识别并分类待测柔性OLED面板样品的各缺陷，减少人力成本和时间成本，通过计算对比不同缺陷的穆勒矩阵差异进行区分，识别柔性OLED面板表面多种缺陷，拓宽缺陷检测范围，通过计算各像素点偏振因子的变化趋势，准确定位待测柔性OLED面板样品缺陷所在层的位置，使用视觉检测方案，通过计算机对偏振信息的计算得到缺陷信息，避免检测过程中对待测物品的损害，结合缺陷的种类、像素点位置和所在层级位置，提供更为全面的缺陷描述方法，提高缺陷检测质量。

主权项：1.一种基于偏振光的柔性OLED面板缺陷检测装置，其特征在于，包括：样品传送装置：包括传送带，用于将待测柔性OLED面板样品传送至采集区域，检测结束后将被测柔性OLED面板样品传送至后续工位；采集装置：包括探测器、光源，所述的光源用于在被测柔性OLED面板样品表面打光，所述的探测器用于获取被测柔性OLED面板样品各点的光强值和功率值；偏振装置：包括检偏器、二号14波片、起偏器、一号14波片，用于获取被测柔性OLED面板样品的偏振信息；角度变换装置：包括电动旋转台、刻度盘，电动旋转台用于控制偏振装置的角度变换，刻度盘用于控制采集装置的角度变换；计算机：用于同步控制采集装置的采集速度和样品传送装置的运动速度，在不同时刻通过采集装置采集被测柔性OLED面板样品的各点光强值和功率值；用于控制角度变换装置的角度变换，在不同时刻变换角度获取多组光强值和功率值，实现不同参数的计算；用于控制一号14波片和二号14波片的使用状态切换和光源种类的切换，实现缺陷种类和缺陷层级位置的不同参数获取；所述的刻度盘包括刻度盘轴架A和刻度盘轴架B，所述的刻度盘轴架A从顶端至下分别固定有探测器、检偏器和二号14波片，所述的刻度盘轴架B从顶端至下分别固定有光源、起偏器和一号14波片，所述的计算机分别与电动旋转台、传送带、刻度盘、光源相连。所述的采集区域为待测柔性OLED面板样品同时位于探测器的视野范围和光源的照射范围。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 浙江大学 一种基于偏振光的柔性OLED面板缺陷检测装置及检测方法