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申请/专利权人：秦安年
摘要：本实用新型公开了测试装置技术领域的一种可防静电的芯片测试架，包括支撑板、伸缩杆、连接块、第一活动板、第二活动板和控制器，所述伸缩杆位于所述支撑板的上侧，所述连接块固定连接在所述伸缩杆的输出端，所述第一活动板固定连接在所述支撑板的底部，所述第二活动板滑动连接在所述第一活动板的底部，所述控制器位于所述支撑板的左上侧，所述伸缩杆的外侧壁套接有复位弹簧，所述连接块的内侧壁粘接有保护块，该可防静电的芯片测试架，实现了芯片测试架的防静电，有利于对芯片的保护，提高了芯片测试架实际使用时的效果，便于操作人员调节芯片夹持后的位置，减少了操作人员的工作负担，有利于芯片测试架实际使用时的效率。
主权项：1.一种可防静电的芯片测试架，其特征在于：包括支撑板100、伸缩杆200、连接块300、第一活动板400、第二活动板500和控制器600，所述伸缩杆200位于所述支撑板100的上侧，所述连接块300固定连接在所述伸缩杆200的输出端，所述第一活动板400固定连接在所述支撑板100的底部，所述第二活动板500滑动连接在所述第一活动板400的底部，所述控制器600位于所述支撑板100的左上侧，所述伸缩杆200的外侧壁套接有复位弹簧210，所述连接块300的内侧壁粘接有保护块310。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 秦安年 一种可防静电的芯片测试架
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