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申请/专利权人：苏州华兴源创科技股份有限公司
摘要：本申请涉及一种探针测试装置及测试设备，探针测试装置包括第一滑动机构、探针组件及第二滑动机构，其中：探针组件设置于第一滑动机构，第一滑动机构用于驱动探针组件进行多轴运动，探针组件包括两根探针；第二滑动机构设置于第一滑动机构，至少一根探针设置于第二滑动机构，第二滑动机构用于驱动两根探针朝向相互靠近或远离的方向运动。本申请提供的探针测试装置，在待测产品两测试点之间间距或待测产品规格变化时，无需更换探针组件，仅需通过第二滑动机构调整两根探针之间的间距即可适应不同间距两测试点的电性测试，能有效降低待测产品的测试成本。
主权项：1.一种探针测试装置，其特征在于，所述探针测试装置包括：第一滑动机构；探针组件，所述探针组件设置于所述第一滑动机构，所述第一滑动机构用于驱动所述探针组件进行多轴运动，所述探针组件包括两根探针；第二滑动机构，所述第二滑动机构设置于所述第一滑动机构，至少一根所述探针设置于所述第二滑动机构，所述第二滑动机构用于驱动两根所述探针朝向相互靠近或远离的方向运动。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 苏州华兴源创科技股份有限公司 探针测试装置及测试设备
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