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申请/专利权人：归芯科技(深圳)有限公司
摘要：本发明提供一种外挂芯片测试系统和外挂芯片测试方法，其中外挂芯片测试系统包括：测试设备、主控芯片和外挂芯片；外挂芯片与测试设备分别与主控芯片通信连接，测试设备通过主控芯片对外挂芯片进行测试。本发明能够降低外挂芯片测试的复杂度以及测试产线的成本，并提高测试设备的测试效率。
主权项：1.一种外挂芯片测试系统，其特征在于，所述系统包括：测试设备、主控芯片和外挂芯片；所述外挂芯片与所述测试设备分别与所述主控芯片通信连接，所述测试设备通过所述主控芯片对所述外挂芯片进行测试。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 归芯科技(深圳)有限公司 外挂芯片测试系统和外挂芯片测试方法
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