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申请/专利权人：上海韬润半导体有限公司
摘要：本申请公开一种测试系统，涉及芯片测试领域。测试系统用于包括存储器的待测芯片，测试系统包括测试机和测试模块，测试模块设置于待测芯片上并耦接存储器的访问端口；其中，测试机被配置为发送控制信号，测试模块被配置为接收控制信号，并根据控制信号切换状态，状态包括空闲状态和工作状态；当测试模块处于工作状态，测试机通过待测芯片的至少一个数据引脚向存储器传输第一数据或者从存储器读取第二数据，直至测试模块根据控制信号将状态切换为空闲状态；控制信号包括最大地址信号，当测试模块从空闲状态切换为工作状态，测试模块中的计数值开始累加，当计数值累加至最大地址信号，测试模块从工作状态切换为空闲状态。如此，提高了芯片测试效率。
主权项：1.一种测试系统，其特征在于，用于待测芯片，所述待测芯片包括存储器，所述测试系统包括测试机和测试模块，所述测试模块设置于所述待测芯片上并耦接所述存储器的访问端口；其中，所述测试机被配置为发送控制信号，所述测试模块被配置为接收所述控制信号，并根据所述控制信号切换状态，所述状态包括空闲状态和工作状态；当所述测试模块处于所述工作状态时，所述测试机通过所述待测芯片的至少一个数据引脚向所述存储器传输第一数据或者从所述存储器读取第二数据，直至所述测试模块根据所述控制信号将状态切换为所述空闲状态；所述控制信号包括最大地址信号，当所述测试模块从所述空闲状态切换为所述工作状态时，所述测试模块中的计数值开始累加，当所述计数值累加至所述最大地址信号时，所述测试模块从所述工作状态切换为所述空闲状态。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海韬润半导体有限公司 测试系统
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