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芯片封装结构、芯片封装结构的制备方法及物理量测量装置 

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申请/专利权人:展讯通信(上海)有限公司

摘要:本申请涉及一种芯片封装结构、芯片封装结构的制备方法及物理量测量装置。该芯片封装结构,包括:基板、芯片、第一金属焊盘、第二金属焊盘、第一金属线与封装层;芯片位于基板上;第一金属焊盘位于基板上或芯片上;第二金属焊盘位于基板上或芯片上;第一金属线一端与第一金属焊盘固定连接,另一端与第二金属焊盘固定连接;封装层位于基板上方,且包裹芯片、第一金属焊盘、第二金属焊盘以及第一金属线;第一金属线用于测量物理量。本申请的技术方案,可以在不改变芯片设计以及不增加芯片制备工艺的前提下,实现芯片封装结构的物理量测量,进而可以降低成本。

主权项:1.一种芯片封装结构,其特征在于,包括:基板;芯片,位于所述基板上;第一金属焊盘,位于所述基板上或所述芯片上;第二金属焊盘,位于所述基板上或所述芯片上;第一金属线,一端与所述第一金属焊盘固定连接,另一端与所述第二金属焊盘固定连接;封装层,位于所述基板上方,且包裹所述芯片、所述第一金属焊盘、所述第二金属焊盘以及所述第一金属线;所述第一金属线用于测量物理量。

全文数据:

权利要求:

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