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申请/专利权人：西安理工大学
摘要：本发明涉及测量技术领域，本发明公开了一种基于3‑Sigma准则交叉相关的红移测量方法，包括：通过光谱红移导航系统模型和光谱红移谱线信息，获取红移先验信息；获取所述导航系统模型和所述特征谱线的先验信息后，通过重要性采样计算所述基于导航系统模型和特征谱线的光谱红移概率密度函数；对所述基于导航系统模型和特征谱线的光谱红移概率密度函数进行采样，获取数量固定且不受伪谱线和谱线偏移干扰的红移候选点，然后，在所述红移候选点区间内，采用参考光谱与待测光谱进行交叉相关计算，确定光谱红移量。可获取准确的光谱红移概率密度函数；可获取数量固定且不受谱线偏移和伪谱线影响的红移候选点；可实现快速且准确的光谱红移测量。
主权项：1.一种基于3-Sigma采样准则交叉相关的光谱红移测量方法，其特征在于，包括：提取光谱红移特征谱线信息，计算初始红移候选点，作为基于特征谱线的红移先验信息；构建光谱红移导航系统模型，计算红移预测点，作为基于导航系统模型的红移先验信息；基于所述基于导航系统模型的红移先验信息和所述基于特征谱线的红移先验信息，通过重要性采样计算基于所述导航系统模型和所述特征谱线的光谱红移概率密度函数；基于3-Sigma采样点交叉相关的红移测量和3-Sigma采样准则，对所述导航系统模型和所述特征谱线的光谱红移概率密度函数进行采样，获取数量固定且不受伪谱线和谱线偏移干扰的红移候选点，然后，在所述红移候选点区间内，采用参考光谱与待测光谱进行交叉相关计算，确定光谱红移量。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西安理工大学 一种基于3-Sigma采样准则交叉相关的光谱红移测量方法
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