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申请/专利权人：特里纳米克斯股份有限公司

摘要：本发明涉及一种用于光谱仪装置110的使用中校准方法。该方法包括：a提供至少一个光谱仪装置110，该光谱仪装置包括光学特性不同的至少一个光学测量元件116和至少一个光学校准元件122；b提供至少一个样本120；c使用光谱仪装置110执行至少两个测量，具体地至少两个连续测量，其中，这些测量中的一个是在具有样本120的情况下执行的，并且这些测量中的一个是在没有样本120的情况下执行的，i.其中，在具有样本120的情况下执行测量包括通过使用光学测量元件116经由光学测量路径118照射光谱仪装置110的检测器112，光学测量路径118包括在至少一个样本120处的至少一次反射，并且ii.其中，在没有样本120的情况下执行测量包括通过使用光学校准元件122经由独立于光学测量路径124的光学校准路径124照射检测器112，光学校准路径124包括至少一次与光学校准元件122的相互作用，但不与样本120相互作用，并且其中，光学校准路径124布置在光谱仪装置110内，具体地在光谱仪装置的壳体125内；d由至少一个检测器112根据在没有样本120的情况下的测量生成至少一个第一检测器信号Sd1并且根据在具有样本120的情况下的测量生成至少一个第二检测器信号Sd2；e从第一检测器信号Sd1和第二检测器信号Sd2导出至少一个样本120的至少一个经校准的光学特性。进一步地，披露了一种被配置成执行使用中校准方法的光谱仪装置110及其各种用途。

主权项：1.一种用于光谱仪装置110的使用中校准方法，该方法包括：a提供至少一个光谱仪装置110，该光谱仪装置包括光学特性不同的至少一个光学测量元件116和至少一个光学校准元件122，其中，该光谱仪装置110包括至少两个检测器112，其中，第一检测器130被配置成经由至少一个光学测量路径118由所发射的光照射，并且其中，第二检测器132被配置成经由至少一个光学校准路径124由所发射的光照射；b提供至少一个样本120；c使用该光谱仪装置110执行至少两个测量，其中，这些测量中的一个是在具有该样本120的情况下执行的，并且这些测量中的一个是在没有该样本120的情况下执行的，i.其中，在具有该样本120的情况下执行测量包括通过使用该光学测量元件116经由该光学测量路径118照射该光谱仪装置110的第一检测器130，该光学测量路径118包括在该至少一个样本120处的至少一次反射，并且ii.其中，在没有该样本120的情况下执行测量包括通过使用该光学校准元件122经由独立于该光学测量路径124的该光学校准路径124照射该第二检测器132，该光学校准路径124包括至少一次与该光学校准元件122的相互作用，但不与该样本120相互作用，并且其中，该光学校准路径124布置在该光谱仪装置110内，具体地在该光谱仪装置的壳体125内；其中，同时执行这两个测量；d由该至少一个检测器112根据在没有该样本120的情况下的测量生成至少一个第一检测器信号Sd1并且根据在具有该样本120的情况下的测量生成至少一个第二检测器信号Sd2；e从该第一检测器信号Sd1和该第二检测器信号Sd2导出该至少一个样本120的至少一个经校准的光学特性。

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百度查询： 特里纳米克斯股份有限公司 具有内置校准路径的光谱仪