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申请/专利权人：友达光电股份有限公司
摘要：一种电致发光元件阵列的巨量检测装置及方法，电致发光元件阵列的巨量检测装置包括检测电路、影像分析模块、模拟器、校正模块以及判断模块。检测电路包括透光导电基板以及共同焊垫层。通过透光导电基板和共同焊垫层电性导通电致发光元件阵列，使每一个电致发光元件发光。影像分析模块用于获取电致发光元件阵列的发光影像，并获取每一个电致发光元件的亮度测量值。模拟器用于模拟电致发光元件阵列，以获取每一个电致发光元件的理论亮度值。校正模块用于校正亮度测量值以获取亮度校正值。判断模块用于根据亮度校正值和理论亮度值的差值来判断每一个电致发光元件的状态。
主权项：1.一种电致发光元件阵列的巨量检测装置，包括：一检测电路，包括：一透光导电基板，与一电致发光元件阵列中的多个电致发光元件的每一者的一第一电极电性接触；以及一共同焊垫层，一端与该多个电致发光元件的每一者的一第二电极电性接触；通过该透光导电基板和该共同焊垫层电性导通该电致发光元件阵列，使该多个电致发光元件的每一者发光；一影像分析模块，用于获取该电致发光元件阵列的一发光影像，并根据该发光影像，获取该多个电致发光元件的每一者的一亮度测量值；一模拟器，用于模拟该电致发光元件阵列，以获取该多个电致发光元件的每一者的一理论亮度值；一校正模块，用于校正该亮度测量值，以获取一亮度校正值；以及一判断模块，用于根据该亮度校正值和该理论亮度值二者的一差值，来判断该多个电致发光元件的每一者的一状态。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 友达光电股份有限公司 电致发光元件阵列的巨量检测装置及方法
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