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申请/专利权人：合肥埃科光电科技股份有限公司
摘要：本发明公开了一种可用于FPGA实现的点坐标均匀化方法、系统及介质，方法包括：获取待均匀化的坐标点数据，设定沿横坐标方向均匀分布的采样点集合，以使采样点集合对应横坐标区域能够覆盖坐标点数据；采集任意两个相邻坐标点数据，计算得到两个相邻坐标点之间的采样点数量及位置；计算两个相邻坐标点连线的直线斜率；统计两个相邻坐标点之间各采样点位置，分别计算两个相邻坐标点之间各采样点的纵坐标插值，以作为所有采样点的输出结果。本发明最终只需要输出多个Z坐标，不仅能够有效减少传输带宽，同时能够输出均匀的点云数据，提升最终模型的细节表现和质量，更好的满足市场需求；能够用于FPGA实时并行计算，极大的提高运行效率。
主权项：1.一种可用于FPGA实现的点坐标均匀化方法，其特征在于，包括：获取待均匀化的坐标点数据，设定沿横坐标方向均匀分布的采样点集合，以使采样点集合对应横坐标区域能够覆盖坐标点数据；采集任意两个相邻坐标点数据，计算得到两个相邻坐标点之间的采样点数量及位置；计算两个相邻坐标点连线的直线斜率，以作为两个相邻坐标点之间各采样点的斜率值；统计两个相邻坐标点之间各采样点位置，并根据对应斜率值分别计算两个相邻坐标点之间各采样点的纵坐标插值，以作为所有采样点的输出结果，实现坐标均匀化。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 合肥埃科光电科技股份有限公司 一种可用于FPGA实现的点坐标均匀化方法、系统及介质
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