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全数字锁相环补偿值的设定方法、装置、存储介质及设备 

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申请/专利权人:厦门电科星拓科技有限公司

摘要:本发明涉及集成电路技术领域,本发明提出一种全数字锁相环补偿值的设定方法、装置、存储介质及设备,在设置完全数字锁相环中延迟补偿模块的补偿值后,控制全数字锁相环工作;当全数字锁相环在预设时间长度内达到锁定状态时,控制全数字锁相环切换为开环状态;获取全数字锁相环的第一采样结果数和第二采样结果数;基于第一采样结果数和第二采样结果数确定当前的补偿值是否合格。不依赖外部测量仪器的情况下,通过全数字锁相环中的时间数字转换器的采样结果数,对延迟补偿模块的补偿值进行验证,保障延迟补偿模块的补偿值合格,以保障快照电路模块对应延迟补偿的时序裕度,以保障全数字锁相环时序稳定,使其能够稳定工作。

主权项:1.一种全数字锁相环补偿值的设定方法,其特征在于,所述方法包括:在设置完全数字锁相环中延迟补偿模块的补偿值后,控制所述全数字锁相环工作;当所述全数字锁相环在预设时间长度内达到锁定状态时,控制所述全数字锁相环切换为开环状态;获取所述全数字锁相环的第一采样结果数和第二采样结果数,其中,所述第一采样结果数表示所述全数字锁相环中的时间数字转换器在相位超前阶段内的采样结果的数量,所述第二采样结果数表示所述时间数字转换器在相位滞后阶段内的采样结果的数量;基于所述第一采样结果数和所述第二采样结果数确定当前的补偿值是否合格;所述基于所述第一采样结果数和所述第二采样结果数确定当前的补偿值是否合格的步骤,包括:当所述第一采样结果数和所述第二采样结果数均不为0时,确定当前的补偿值合格;当所述第一采样结果数或所述第二采样结果数为0时,确定当前的补偿值不合格;在当前的补偿值不合格时,所述全数字锁相环补偿值的设定方法还包括:当所述第一采样结果数大于0,所述第二采样结果数为0时,将当前的补偿值降低第一目标长度,以得到新的补偿值;当所述第一采样结果数为0,所述第二采样结果数大于0时,将当前的补偿值增加第一目标长度,以得到新的补偿值;基于新的补偿值,重新设置全数字锁相环中延迟补偿模块的补偿值;或者,所述基于所述第一采样结果数和所述第二采样结果数确定当前的补偿值是否合格的步骤,包括:基于所述第一采样结果数和所述第二采样结果数确定相位超前方向裕度和相位滞后方向裕度;在所述相位超前方向裕度和所述相位滞后方向裕度满足第一条件和第二条件时,确定当前的补偿值合格;在所述相位超前方向裕度和所述相位滞后方向裕度不满足第一条件或第二条件时,确定当前的补偿值不合格;所述第一条件为所述相位超前方向裕度和所述相位滞后方向裕度均不为0,所述第二条件为所述相位超前方向裕度和所述相位滞后方向裕度的差的绝对值小于或等于第一阈值;在当前的补偿值不合格时,所述全数字锁相环补偿值的设定方法还包括:当所述相位超前方向裕度大于所述相位滞后方向裕度时,将当前的补偿值降低第二目标长度,以得到新的补偿值;当所述相位超前方向裕度小于所述相位滞后方向裕度时,将当前的补偿值增加第二目标长度,以得到新的补偿值;基于新的补偿值,重新设置全数字锁相环中延迟补偿模块的补偿值。

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权利要求:

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