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申请/专利权人:中国电子科技集团公司第五十五研究所
摘要:本发明涉及一种VCSEL芯片的制备方法,其步骤有:在衬底A正面依次生长缓冲层、停止层、N接触层、N‑DBR、有源层、P‑DBR以及P接触层;在P接触层上方做P接触金属,将外延结构刻蚀至停止层,并对其表面进行氧化;将衬底A与支撑载片正面相对进行临时键合;衬底A从背面减薄;将衬底A除外延层以外的剩余衬底和缓冲层去除;将停止层去除,得到与支撑载片临时键合的VCSEL外延层结构,露出N接触层背面;在N接触层背面制备N电极;在另一衬底B正面制备键合金属层;将N电极与衬底B正面相对,并通过键合金属层进行永久键合;进行解键合,并清洗;得到具有高效散热效果的VCSEL芯片。本方法能够在有效改善VCSEL芯片散热效果的同时,具有更小的串联电阻。
主权项:1.一种VCSEL芯片的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:1在衬底A正面依次生长缓冲层、停止层、N接触层、N-DBR、有源层、P-DBR以及P接触层;2在P接触层上方做P接触金属,然后将外延结构刻蚀至停止层,形成台面型VCSEL器件结构,并对其表面进行氧化;3在衬底A表面旋涂临时粘附剂,覆盖住器件结构;4将衬底A与支撑载片正面相对进行临时键合;5将与支撑载片临时键合的衬底A从背面开始减薄;6将与支撑载片临时键合的衬底A除外延层以外的剩余衬底和缓冲层去除,露出停止层背面;7将停止层去除,得到与支撑载片临时键合的VCSEL外延层结构,并露出N接触层背面;8在N接触层背面制备N电极;9在另一高导热衬底B正面制备键合金属层;10将与支撑载片临时键合的VCSEL外延层背面N电极与B衬底正面相对,并通过键合金属层进行永久键合;11将支撑载片与衬底B和VCSEL外延层形成的永久键合结构进行解键合,并清洗;12得到在高导热衬底B上形成的VCSEL芯片。
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