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集成电路测试装置 

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申请/专利权人:日月新半导体(苏州)有限公司

摘要:本实用新型涉及吸嘴技术领域,具体是一种集成电路测试装置,包括有气腔,所述气腔的侧边通过螺丝与进气阀的一端进行连接,所述进气阀的另一端设置有气管接头,同时所述气腔的一端设置有磁吸,所述磁吸设置在外部升降模组的端部,所述气腔的另一端设置有吸嘴,所述吸嘴与外部测试产品的进气孔相连接。本实用新型的集成电路测试装置通过进气阀对气腔进行充气,并通过吸嘴对芯片进行充气,通过芯片内的压力变化情况,判断芯片的气密性,从而不仅可以避免Socket测试座的整改,而且还提高了整体的通用性,大大提高了测试效率。

主权项:1.一种集成电路测试装置,其特征在于,包括有气腔,所述气腔的侧边通过螺丝6与进气阀9的一端进行连接,所述进气阀9的另一端设置有气管接头8,同时所述气腔的一端设置有磁吸1,所述气腔的另一端设置有吸嘴5,所述吸嘴5与外部测试产品的进气孔相连接。

全文数据:

权利要求:

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