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申请/专利权人：深圳市大族数控科技股份有限公司;深圳麦逊电子有限公司
申请日：2024-06-12
公开（公告）日：2024-10-11
公开（公告）号：CN118759341A
专利技术分类：.电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）[2006.01]
专利摘要：本发明属于FPC测试技术领域，涉及一种测试设备。该测试设备包括机台、测试装置以及展平装置，所述展平装置包括机架以及多个展平机构，所述机架设置在所述机台上，多个所述展平机构间隔设置在所述机架上；多个所述展平机构用于对待测工件的外边缘进行夹持，并可分别带动其夹持的部位远离所述待测工件上的基准位置，以展平所述待测工件；所述测试装置包括第一测试治具及第二测试治具，所述第一测试治具及第二测试治具安装于所述机架，所述第一测试治具用于与所述第二测试治具配合以对所述待测工件进行测试。该测试设备先通过展平装置对待测工件进行展平，再通过测试装置对展平的待测工件进行测试，可有效提高测试的准确度。
专利权项：1.一种测试设备，其特征在于，包括机台、测试装置以及展平装置，所述展平装置包括机架以及多个展平机构，所述机架设置在所述机台上，多个所述展平机构间隔设置在所述机架上；多个所述展平机构用于对待测工件的外边缘进行夹持，并可分别带动其夹持的部位远离所述待测工件上的基准位置，以展平所述待测工件；所述测试装置包括第一测试治具及第二测试治具，所述第一测试治具及第二测试治具安装于所述机架，所述第一测试治具用于与所述第二测试治具配合以对所述待测工件进行测试。
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