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一种基于体硅的柱状型半导体场效应正反馈晶体管 

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申请/专利权人:复旦大学

摘要:本发明属于半导体器件技术领域,具体为基于体硅的柱状型半导体场效应正反馈晶体管。本发明的场效应正反馈晶体管,其阴阳极为反型重掺杂,即一方为p+型而另一方为n+型掺杂,中间是硅的沟道为本征弱型掺杂,外面被栅氧化层和栅极一层一层包裹住构成一个环栅结构;从而得到垂直结构的沟道以及栅氧化层。与传统的场效应正反馈器件如Z2‑FET相比,本发明将平面型栅氧化层更改为垂直柱状型结构,增大栅氧化层电容,延长数据存储时间提升可靠性;与普通的体硅CMOS工艺和器件结构兼容;引入关键的垂直型栅氧化层结构,其类环栅的金属栅极可以四面八方控制中间沟道,抑制了短沟道效应,可应用于高性能动态存储器DRAM。

主权项:1.一种基于体硅的柱状型半导体场效应正反馈晶体管,其特征在于,结构为:衬底是重掺杂的阴极(1),在阴极(1)之上外延垂直生长的p型沟道区域(3)、本征弱掺杂型沟道区域(6)和重掺杂阳极(7);由过刻蚀导致底部重掺杂阴极(1)两侧凹陷,阴极凹陷部分与p型沟道区域(3)的两侧分别为绝缘层衬底填充(2、10);本征弱掺杂型沟道区域(6)两侧分别为栅氧化层(5、8),再外侧分别为栅极(4、9);这样栅氧化层(5、8)将沟道区域(6)包裹住,并将沟道区域(6)与栅极(4、9)隔离开来;重掺杂的阳极(7)在最顶部露。

全文数据:

权利要求:

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