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申请/专利权人：欣兴电子股份有限公司
摘要：本发明提供一种探针卡测试装置。探针卡测试装置包括第一子电路板、第二子电路板、连接结构层、固定板、探针头以及多个导电探针。第一子电路板通过连接结构层而与第二子电路板电性连接。固定板配置于第二子电路板上且包括开口以及容置槽。开口贯穿固定板且暴露出第二子电路板上的多个接垫。容置槽位于固定板相对远离第二子电路板的一侧且连通开口。探针头配置于固定板的容置槽内。导电探针穿设定位于探针头且位于固定板的开口内。导电探针的一端分别对应接触接垫。本发明的探针卡测试装置，无需使用焊料及底胶，可降低成本，且具有较佳的结构可靠度。
主权项：1.一种探针卡测试装置，其特征在于，包括：第一子电路板；第二子电路板，配置于所述第一子电路板的一侧；连接结构层，配置于所述第一子电路板与所述第二子电路板之间，且所述第一子电路板通过所述连接结构层而与所述第二子电路板电性连接；固定板，配置于所述第二子电路板上，且所述固定板包括开口以及容置槽，其中所述开口贯穿所述固定板且暴露出所述第二子电路板上的多个接垫，而所述容置槽位于所述固定板相对远离所述第二子电路板的一侧且连通所述开口；探针头，配置于所述固定板的所述容置槽内；以及多个导电探针，穿设定位于所述探针头，且位于所述固定板的所述开口内，其中所述多个导电探针的一端分别对应接触所述多个接垫。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 欣兴电子股份有限公司 探针卡测试装置
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