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申请/专利权人：西安电子科技大学;无锡盛景微电子股份有限公司
摘要：本发明提供了基于污染源扩散理论的低可靠性芯片识别方法及装置。其中，包括：获取待识别芯片以及污染芯片；根据待识别芯片与污染芯片的位置信息以及预设污染范围，从模型数据库中查找污染芯片对应的权重系数和污染系数；模型数据库包括：第一数据库和第二数据库，第一数据库用于存储相关位置信息，第二数据库用于存储相关权重系数和相关污染系数；利用权重系数和污染系数计算污染程度值；将污染程度值代入转换函数，获取待识别芯片的早期失效概率；基于预设筛选阈值和早期失效概率对待识别芯片进行可靠性判断，获取识别结果；第二数据库和转换函数均基于优化遗传算法优化训练得到。提高了低可靠性芯片识别的稳定性和准确性，降低了良品损失。
主权项：1.一种基于污染源扩散理论的低可靠性芯片识别方法，其特征在于，包括：获取待识别芯片以及污染芯片；根据所述待识别芯片与所述污染芯片的位置信息以及预设污染范围，从模型数据库中查找所述污染芯片对应的权重系数和污染系数；所述模型数据库包括：第一数据库和第二数据库，所述第一数据库用于存储相关位置信息，所述第二数据库用于存储相关权重系数和相关污染系数；利用所述权重系数和所述污染系数计算污染程度值；将所述污染程度值代入转换函数，获取所述待识别芯片的早期失效概率；基于预设筛选阈值和所述早期失效概率对所述待识别芯片进行可靠性判断，获取识别结果；所述第二数据库和所述转换函数均基于优化遗传SGA算法优化训练得到。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西安电子科技大学 无锡盛景微电子股份有限公司 基于污染源扩散理论的低可靠性芯片识别方法及装置
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