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半导体器件及其形成方法 

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申请/专利权人:台湾积体电路制造股份有限公司

摘要:方法和半导体器件包括具有一个或多个半导体器件的衬底。在一些实施例中,器件还包括设置在一个或多个半导体器件上方的第一钝化层。器件可以进一步包括形成在第一钝化层上方的金属‑绝缘体‑金属MIM电容器结构。此外,器件可以进一步包括设置在MIM电容器结构上方的第二钝化层。在各个实例中,应力减小部件嵌入在第二钝化层内。在一些实施例中,应力减小部件包括第一含氮层、设置在第一含氮层上方的含氧层和设置在含氧层上方的第二含氮层。本申请还涉及半导体器件及其形成方法。

主权项:1.一种半导体器件,包括:衬底,包括一个或多个半导体器件;第一钝化层,设置在所述一个或多个半导体器件上方;金属-绝缘体-金属电容器结构,形成在所述第一钝化层上方;以及第二钝化层,设置在所述金属-绝缘体-金属电容器结构上方,其中,应力减小部件嵌入在所述第二钝化层内,所述应力减小部件包括第一含氮层、设置在所述第一含氮层上方的含氧层和设置在所述含氧层上方的第二含氮层。

全文数据:

权利要求:

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