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申请/专利权人：洛克利光子有限公司
申请日：2022-11-25
公开（公告）日：2024-07-05
公开（公告）号：CN118302657A
主分类号：G01J3/10
分类号：G01J3/10;G01J3/28
优先权：["20211126 US 63/283375"]
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.07.05#公开
摘要：一种用于对样本的光谱分析的光学传感器，所述光学传感器包括：用于向样本提供光的光子集成芯片PIC，所述PIC包括：一个或多个激光器，其设计成在一个或多个相应的预定波长下操作，所述一个或多个激光器中的每个激光器具有被光学地耦合到所述PIC的光学输出的输出；以及监测器，其位于所述PIC上以用于确定所述光学输出的波长；所述光学传感器进一步包括：检测器，其用于收集来自样本的光谱；以及一个或多个处理器，其配置成：将所述光学输出处的所述一个或多个激光器的波长与其相应的一个或多个预定波长中的每个预定波长进行比较；以及如果在所述一个或多个激光器的波长与所述一个或多个预定波长之间检测到高于某个阈值的偏差，则适配所收集的光谱，以生成重构光谱；并且将来自重构光谱的一个或多个数据点用于光谱分析。
主权项：1.一种用于样本的光谱分析的光学传感器，所述光学传感器包括：用于向所述样本提供光的光子集成芯片PIC，所述PIC包括：一个或多个激光器，其设计成在一个或多个相应的预定波长下操作，所述一个或多个激光器中的每个激光器具有被光学地耦合到所述PIC的光学输出的输出；以及监测器，其位于所述PIC上以用于确定所述光学输出的所述波长；所述光学传感器进一步包括：检测器，其用于收集来自所述样本的光谱；以及一个或多个处理器，其配置成：将所述光学输出处的所述一个或多个激光器的所述波长与其相应的一个或多个预定波长中的每个预定波长进行比较；以及如果在所述一个或多个激光器的所述波长与所述一个或多个预定波长之间检测到高于某个阈值的偏差，则适配所收集的光谱以生成重构光谱；以及将来自所述重构光谱的一个或多个数据点用于所述光谱分析。
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