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申请/专利权人：皇家飞利浦有限公司
摘要：本发明涉及一种光子计数探测器，所述光子计数探测器包括：第一直接转换层10，其包括低吸收性直接转换材料11和第一电触点12，所述低吸收性直接转换材料用于将撞击的高能电磁辐射100转换成第一计数信号；第二直接转换层20，其包括高吸收性直接转换材料21和第二电触点22，所述高吸收性直接转换材料用于将撞击的高能电磁辐射100转换成第二计数信号，所述高吸收性直接转换材料的吸收性比所述低吸收性直接转换材料的吸收性更高；载体层30、30a、30b，其包括与所述第一电触点和所述第二电触点接触的第一端子31和第二端子32以及处理电路35，其被配置为基于所述第一计数信号对所述第二计数信号校正误差，其中，所述第一直接转换层和所述第二直接转换层被布置为使得所述高能电磁辐射在击中所述第二直接转换层之前透射所述第一直接转换层。
主权项：1.一种光子计数探测器，包括：第一直接转换层10，其包括低吸收性直接转换材料11和第一电触点12，所述低吸收性直接转换材料用于将撞击的高能电磁辐射100转换成第一计数信号，第二直接转换层20，其包括高吸收性直接转换材料21和第二电触点22，所述高吸收性直接转换材料用于将撞击的高能电磁辐射100转换成第二计数信号，所述高吸收性直接转换材料的吸收性比所述低吸收性直接转换材料的吸收性更高，载体层30、30a、30b，其包括与所述第一电触点12和所述第二电触点22接触的第一端子31和第二端子32，以及处理电路35，其被配置为基于所述第一计数信号对所述第二计数信号校正误差，其中，所述第一直接转换层和所述第二直接转换层被布置为使得所述高能电磁辐射在击中所述第二直接转换层之前透射所述第一直接转换层，其中，所述处理电路35还被配置为：使用所述第一计数信号作为撞击的电磁辐射的估计结果以用于校正所述第二计数信号的漂移，并且在所述第二计数信号中存在变化但在所述第一计数信号中不存在变化的情况下或者在所述第一计数信号与所述第二计数信号之间的相关性偏离参考相关性的情况下确定在所述第二计数信号中存在漂移。
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