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一种轴瓦定位唇凸出高度测量装置 

申请/专利权人:上海菲特尔莫古轴瓦有限公司

申请日:2023-11-06

公开(公告)日:2024-07-02

公开(公告)号:CN221259718U

主分类号:G01B5/06

分类号:G01B5/06

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.07.02#授权

摘要:本实用新型提供一种轴瓦定位唇凸出高度测量装置,包括平面基板;限位基准块,所述限位基准块固定设置于所述平面基板的第一端面,所述限位基准块的底面包括一基准平面,所述基准平面凸出于所述平面基板的表面;测量表,所述测量表固定设置于所述限位基准块上,所述测量表包括表盘和测量压头,所述测量压头通过传动组件与所述表盘上的指针相连接,通过所述测量压头的伸缩能够带动所述指针转动,其中,所述测量压头的一端向下延伸凸出于所述基准平面。解决了现有技术中对定位唇的凸出高度测量时,测量效率和测量精准度均较低的问题。

主权项:1.一种轴瓦定位唇凸出高度测量装置,其特征在于,包括:平面基板;限位基准块,所述限位基准块固定设置于所述平面基板的第一端面,所述限位基准块的底面包括一基准平面,所述基准平面凸出于所述平面基板的表面;测量表,所述测量表固定设置于所述限位基准块上,所述测量表包括表盘和测量压头,所述测量压头通过传动组件与所述表盘上的指针相连接,通过所述测量压头的伸缩能够带动所述指针转动,其中,所述测量压头的一端向下延伸凸出于所述基准平面。

全文数据:

权利要求:

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