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申请/专利权人:上海电气富士电机电气技术有限公司
摘要:本发明公开了一种利用绝缘栅双极晶体管的突入电流发生电路及方法,属于电子器件测试技术领域;包括直流供电电源,直流供电电源包括电源正极和电源负极;第一电容,第一端连接电源正极,第二端连接电源负极;绝缘栅双极晶体管,集电极连接第一电容的第一端,发射极通过电感连接被测器件的输入端,被测器件的输出端连接第一电容的第二端;脉冲发生器产生脉冲信号输入驱动电路,绝缘栅双极晶体管于驱动电路的控制作用下在被测器件中产生突入电流。上述技术方案的有益效果是:能验证被测器件的耐突入电流能力,易于搭建,可靠性高。
主权项:1.一种利用绝缘栅双极晶体管的突入电流发生电路,其特征在于,包括,直流供电电源DC,所述直流供电电源DC包括电源正极DC+和电源负极DC-;第一电容C1,所述第一电容C1的第一端连接所述电源正极DC+,所述第一电容C1的第二端连接所述电源负极DC-;绝缘栅双极晶体管IGBT,所述绝缘栅双极晶体管IGBT的集电极连接所述第一电容C1的第一端,所述绝缘栅双极晶体管IGBT的发射极通过一电感L连接一被测器件P的输入端,所述被测器件P的输出端连接所述第一电容C1的第二端;一脉冲发生器PG产生脉冲信号PULSE输入一驱动电路B,所述绝缘栅双极晶体管IGBT于所述驱动电路B的控制作用下在所述被测器件P中产生突入电流。
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