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摘要:本实用新型公开的属于芯片检测技术领域,具体为一种芯片可靠性检测用试验箱,包括箱体,箱体呈前侧和左右两侧敞开的箱体,箱体的内腔间隔设置多层托板,托板顶部设有与待检测芯片的引脚相对应的引脚插座;箱体的内腔左右两侧设置有两组防护网板,每组防护网板的中间设置有导热管,导热管呈迂回蛇道状。该实用新型,通过设置的蛇道状的导热管可以均匀的提高箱体内部的温度,从而利于模拟高温环境下芯片的老化速度,并且,通过正反伺服电机带动螺纹杆转动后,使得活动座进行活动,带动伸缩杆和联动杆围绕固定杆转动,从而带动滑套沿着滑杆滑动,既可以快速打开箱体两侧的侧门,再启动防护网板后,既可以快速的对箱体内部进行快速降温。
主权项:1.一种芯片可靠性检测用试验箱,其特征在于,包括:箱体100,所述箱体100呈前侧和左右两侧敞开的箱体,所述箱体100的内腔间隔设置多层托板110,所述托板110顶部设有与待检测芯片的引脚相对应的引脚插座;防护网板200,所述箱体100的内腔左右两侧设置有两组防护网板200,每组所述防护网板200的中间设置有导热管210,所述导热管210呈迂回蛇道状,所述导热管210的内部设置有电热丝以及密封填充有导热液,所述防护网板200远离箱体100内腔的一侧设置有风扇220;侧门300,所述箱体100的左右两侧铰接设置有用于封堵箱体100左右两侧的侧门300;固定座400,所述箱体100的顶部前后对称设置有固定座400,两个所述固定座400之间转动设置有螺纹杆410,所述螺纹杆410的杆身上螺接活动设置有活动座420,所述箱体100的顶壁两侧中部固定设置有竖向的固定杆430,所述活动座420的左右两侧分别转动设置有伸缩杆440,两根所述伸缩杆440的另一端与固定杆430转动连接,且伸缩杆440的另一端固定设置有联动杆450,两个所述侧门300的上边沿内凹开设有安装槽460,所述安装槽460的内壁设置有滑杆470,所述滑杆470的杆身上滑动套接设置有滑套480,所述滑套480的顶部与联动杆450的另一端转动连接。
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百度查询: 北京芯准检测技术研究院有限公司 一种芯片可靠性检测用试验箱
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