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一种精密半导体掩膜材料的轧制方法和装置 

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申请/专利权人:上海罗菱工业技术有限公司

摘要:本发明公开了一种精密半导体掩膜材料的轧制方法和装置,涉及半导体掩膜材料轧制技术领域,用于对原料为半导体掩膜材料的精密带材进行轧制,其包括以下步骤:1、编制轧制工艺;2、进行辊系直径配置;3、配置辊型;4、预设定轧制位置;5、设定轧制厚度、张力以及轧制油冷却量;6、按前5步所设定的参数完成轧制,以获得成品。轧制装置采用精密二十辊轧机,本发明实现了原料宽度为625mm时的半导体掩膜材料的轧制,且具有轧制过程稳定、板型良好、达到产品生产稳定的效果。

主权项:1.一种精密半导体掩膜材料的轧制装置,其特征在于,用于对原料为半导体掩膜材料的精密带材进行轧制,所述轧制装置采用精密二十辊轧机,所述精密二十辊轧机包括第一中间辊(1)、第二中间辊、径向调整机构以及喷油机构,其中:所述精密二十辊轧机对应的相关辊系直径配置范围为:工作辊(2):41.23mm~76.05mm;第一中间辊(1):68.10mm~82.06mm;驱动辊:120.50mm~134.50mm;背撑轴承:225mm;所述第一中间辊(1)的辊型为锥型,第二中间辊的辊型为平辊;所述第一中间辊(1)的有效平坦度预设定为85%的材料宽度;所述径向调整机构的凸度值随着精密带材的宽度减小而增大;所述精密二十辊轧机进行轧制时的压下量分配为:第一道次压下量分配为15.6%~17%,除第一道次以外的其他道次压下量分配为10%~13.2%,且每道次递减;各道次的单位张力为12.55~25.38kgmm2,且按照压下量逐渐递增。

全文数据:

权利要求:

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