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一种芯片测试用定位吸盘 

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申请/专利权人:深圳市禾盛精密电子有限公司

摘要:本实用新型涉及芯片测试技术领域,具体提供一种芯片测试用定位吸盘,其中,包括吸盘本体,吸盘本体的顶部固定连接有连通管体,连通管体的底端贯穿吸盘本体的顶部,连通管体的内腔与吸盘本体相连通,吸盘本体的内部通过安装件固定连接有传感器,传感器用于对芯片位置进行检测,连通管体的侧壁插接有连接软管,连通管体上固定连接有安装板,安装板的顶部固定连接有真空发生器和气泵,连接软管和安装板用于控制吸盘本体内部的负压,连接软管的自由端和真空发生器的输出端固定连接。本实用新型有效解决了现有技术中无法对吸盘吸取期间吸取角度进行限制,易使芯片与检测机体的探针发生偏差问题,达到了提高整体吸盘吸取的便捷度和精确度的目的。

主权项:1.一种芯片测试用定位吸盘,包括,其特征在于:包括吸盘本体1,所述吸盘本体1的顶部固定连接有连通管体2,所述连通管体2的底端贯穿吸盘本体1的顶部,且连通管体2的内腔与吸盘本体1相连通,所述吸盘本体1的内部通过安装件3固定连接有传感器4,且传感器4用于对芯片位置进行检测,所述连通管体2的侧壁插接有连接软管6,且连通管体2上固定连接有安装板7,所述安装板7的顶部固定连接有真空发生器8和气泵9,且连接软管6和安装板7用于控制吸盘本体1内部的负压,所述连接软管6的自由端和真空发生器8的输出端固定连接,所述连通管体2的顶部固定连接有驱动组件,且驱动组件用于驱动吸盘本体1和连通管体2进行线性移动。

全文数据:

权利要求:

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