龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
申请/专利权人：中国电子科技集团公司第五十四研究所
摘要：本发明公开了一种双反射面天线面形重构及获取方向图的方法，属于天线测量技术领域。该方法包括：计算两种主反射面形变偏差值；基于37阶泽尼克多项式，获得泽尼克拟合系数向量；两组系数向量和泽尼克多项式组合，获得主反射面形变重构基本数据；以泽尼克系数向量和泽尼克多项式描述主反射面波前光程差，获得两种主反射面形变相位差与相位影响因子；计算馈源位置偏差下相位影响因子，馈源角度偏差下馈源方向图函数；计算理想天线远场方向图，两种主反射面形变时的远场方向图，馈源位置偏差下远场方向图，获得天线最终远场方向图的基本数据。本发明综合考虑天线结构变形对电性能的影响，提高了绘制天线远场方向图的精度。
主权项：1.一种双反射面天线面形重构方法，其特征在于，包括以下步骤：1建立坐标系，双反射面天线的理论主面坐标系为oxyz，理论主面坐标系沿z轴正向移动主面焦距F得到理论副面坐标系o1x1y1z1，理论副面坐标系沿z1轴负向移动副双曲面焦距2c得到理论馈源坐标系o2x2y2z2；当副面和馈源存在偏差时，实际副面坐标系为o′1x′1y′1z′1，实际馈源坐标系为o'2x'2y'2z'2；2通过测量或有限元力学仿真方式计算得到主面形变偏差值，副面和馈源偏差值；通过副面坐标系变化，将副面偏差换算为主面形变偏差值，将馈源由实际坐标系换算到最终坐标系；最终得到主面自身形变偏差、副面偏差影响时主面形变偏差、馈源最终位置偏差、馈源角度偏差，以及用于主反射面重构的基本数据；3计算前37阶标准泽尼克多项式表达式，以前37阶泽尼克多项式为基底函数，对步骤2中两种主面形变偏差数据进行最小二乘拟合，获得前37阶泽尼克多项式系数向量；将此系数向量和前37阶泽尼克多项式进行组合，得到主反射面自身形变表达式，以及副面偏差影响时主面形变表达式，最终得到主反射面面形重构表达式。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国电子科技集团公司第五十四研究所 一种双反射面天线面形重构及获取方向图的方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号