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申请/专利权人：长鑫存储技术有限公司
摘要：本公开实施例提供一种时序测量方法。该时序测量方法用于测量待测系统的输入缓冲器上的目标待测信号及目标待测信号的目标参考信号之间的时序。该方法包括：分别获得目标待测信号和目标参考信号在待测系统内的片内延迟；分别获得目标待测信号和目标参考信号在待测系统上的封装延迟；根据片内延迟和封装延迟生成滤波器特性曲线，以根据滤波器特性曲线测量目标待测信号及目标参考信号之间的时序。本公开实施例的测量方法能够提高目标待测信号及其目标参考信号之间的时序的准确性，提高分析问题的精度。
主权项：1.一种时序测量方法，其特征在于，所述方法用于测量待测系统的输入缓冲器上的目标待测信号及所述目标待测信号的目标参考信号之间的时序，所述方法包括：分别获得所述目标待测信号和所述目标参考信号在所述待测系统内的片内延迟；分别获得所述目标待测信号和所述目标参考信号在所述待测系统上的封装延迟；根据所述片内延迟和所述封装延迟生成滤波器特性曲线，以根据所述滤波器特性曲线测量所述目标待测信号及所述目标参考信号之间的时序。
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百度查询： 长鑫存储技术有限公司 时序测量方法
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