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申请/专利权人：深圳华大智造科技股份有限公司
摘要：本申请提供一种荧光图像配准方法、基因测序系统与基因测序仪，方法包括：依据第二模板线，在第一方向与第二方向获取荧光图像的像素和特征；根据模板参数选取第一模板线，分别在第一方向与第二方向上的像素和特征中遍历寻找第一模板线对应的像素和的最小和值，依据最小和值对应的位置确定轨迹线位置；在轨迹线位置所在的局部区域内，基于第三模板线对轨迹线进行像素级修正；根据像素级轨迹交叉点获取其他轨迹交叉点位置并对其他轨迹交叉点进行像素级修正；根据像素级轨迹线的局部区域的重心位置，获取轨迹线的亚像素级位置；通过均分画网格方法获取生物芯片上位点的亚像素级位置。利用本申请，可优化荧光图像中荧光基团的定位与配准操作。
主权项：1.一种荧光图像配准方法，应用于生物芯片，其特征在于，所述生物芯片上轨迹线之间的像素距离为模板参数，所述荧光图像配准方法包括：获取所述生物芯片的至少一荧光图像；依据预设的第二模板线，分别在第一方向与第二方向上获取所述至少一荧光图像的像素和特征，所述第一方向垂直于所述第二方向；根据所述模板参数选取若干条第一模板线，分别在所述第一方向与所述第二方向上依据所述像素和特征遍历寻找所述若干条第一模板线对应像素和的最小和值，并依据所述最小和值对应的位置确定轨迹线位置；在所述轨迹线位置所在的局部区域内，基于预设的多条第三模板线对所述轨迹线进行像素级修正，所述进行像素级修正的轨迹线的交点为像素级轨迹交叉点；根据所述像素级轨迹交叉点获取所述生物芯片上其他轨迹交叉点位置，并对所述其他轨迹交叉点进行像素级修正；根据像素级轨迹线的局部区域的重心位置，获取所述轨迹线的亚像素级位置；通过均分画网格方法获取均匀分布于所述生物芯片表面上位点的亚像素级位置。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳华大智造科技股份有限公司 荧光图像配准方法、基因测序系统与基因测序仪
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